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京セラ製太陽電池モジュール、耐PID試験で出力低下ゼロ

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京セラは、ドイツのフラウンホーファー研究機構シリコン太陽光発電研究センター(フラウンホーファーCSP)が公表した耐PID試験の結果、同社製太陽電池モジュールの出力低下がなかったことが明らかになり、独立機関による品質試験で大きな成功を収めたことを発表した。

この成功は、テュフ・ラインランドの長期連続試験に続くもので、35年以上におよぶ実績と品質を重視した製造工程から生まれた、同社製モジュールの高品質と高信頼性を裏付ける形となった。

PID(potential induced degradation)は、太陽電池セルに高い負電圧が流れると出力が低下する現象。PID現象によって、個々のモジュールだけでなく、太陽光発電システム全体の総出力や効率が低下する恐れがある。

今年初めに、フラウンホーファーCSPは主要13社の製造元から匿名で太陽電池モジュールを入手し、摂氏50 度、相対湿度50%、1000Vの条件の下、表面をアルミ箔で覆い48時間さらすという独自の高電圧負荷試験を実施。出力を低下せずに試験を終えたのはわずか4製品で、京セラ製モジュールはそのうちの一つだった。その他9 社の製品で部分的あるいは大幅な出力低下が見られた。

これらの結果は、各社のモジュールに明らかな差があることを際立たせると同時に、京セラ製が高いPID耐性を備えている数少ないモジュールの一つであることを証明したといえる。

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