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SIIナノテク リチウムイオン電池向け異物解析用蛍光X線分析装置を開発

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リチウムイオン電池内の電極・セパレーター等に含まれた微小な金属異物は、同電池の信頼性・長寿命化を妨げる要因のひとつとなっている。従来はそうした微小金属異物の検出に、走査電子顕微鏡や汎用の蛍光X線分析装置が用いられ、数時間から1日を要していた。今回開発した蛍光X線分析装置は、同社が培った蛍光X線技術を応用し、10μmサイズの微小な異物の検出・解析を可能にするとともに、検出スピードを従来機比で約10~20倍に向上させた。例えば10×10mmのサンプルで直径20μmの遺物を検出する時間は、従来の200分から10分程度に短縮できる。2010年3月をめどに商品化し、リチウムイオン電池関係の材料メーカー・電池メーカー等へ営業を展開していく予定だ。

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