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Qセルズ、欧州最大の研究機関が同社モジュールの耐PID性能を保証

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ドイツの太陽光メーカーQセルズは、同社グループの全製品に採用されている「耐PIDテクノロジー」が、PID現象発生のリスクを抑え、最大出力を保証することが欧州最大の研究機関として知られるフラウンホーファー研究機構のシリコン・光起電力センター(フラウンホーファー研究機構CSP)で認定されたことを発表した。

フラウンホーファー研究機構CSPが、同社のモジュールを含む13種類のモジュールを対象に耐PIDテストを行ったところ、13種類の内9種類に出力低下が確認された。9種類の出力は、平均して56%の出力低下を記録、最大で90%もの出力低下だった。今回テスト対象となったモジュールのうち、出力低下が確認されなかったモジュールは同社の多結晶モジュール「Q.PRO」を含む4種類のみだった。

Qセルズは、太陽光発電メーカーとしていち早くPID現象による出力低下問題に取り組み、PIDに強いセル、モジュールの開発、生産に成功。昨年は、第三者機関と複数の企業と共同で初期の耐PIDテスト開発にも成功し、同社のモジュールが最大出力を保証することが確認された。今回の認定により、Qセルズのモジュールの出力保証がさらに裏付けられたことになる。

なお、PID現象は、モジュールの漏れ電流が発生し、大幅な出力低下につながる現象。大規模な太陽光発電所を日本に先駆けて設置している欧州では、すでに大きな問題となっている。また、高温多湿など、環境の影響によって低下を加速させることがあり、運転開始後に発生する進行性のある現象のため、20%以上の出力低下を招く原因になることがある。同社は、耐PIDテクノロジーのセルを採用することにより、セルレベルでPIDの発生リスクを抑え、高い出力を確保している。

参考:Fraunhofer CSP - Fraunhofer CSP presents results of potential induced degradation (PID)(※英語)

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