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パナソニック、HIT太陽電池モジュールの高いPID耐性を実証

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パナソニックグループ エナジー社は、同社製HIT太陽電池モジュールが、社内及び第三者機関で検証した結果により、PID(Potential Induced Degradation:電圧誘起出力低下)に対して高い耐性を有することを実証したと発表した。HIT太陽電池は、第三者機関が実施した試験において、高システム電圧、高温多湿の環境下でも太陽光発電システム全体の総出力の低下がみられなかった。

PID現象とは、太陽電池モジュールでモジュール内部回路(太陽電池セル)と接地されたフレームとの間に高電圧がかけられた状態で温度や湿度などの外部要因が加わった場合に生じることがある出力低下現象で、太陽光発電システム全体の総出力を低下させる恐れがある。一般にシステム電圧が高く、高温多湿な環境において起こりやすいとされている。

今回、第三者機関で実施した試験条件は、これまで複数機関から報告されている各種PID試験条件の中でも最も厳しい条件であり、検証結果は、同社製モジュールの高品質ならびに高信頼性を証明するものだとしている。

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