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カネカの薄膜シリコン太陽電池モジュール、PID試験で高耐性証明

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カネカは、同社製「薄膜シリコン太陽電池モジュール」における社内及び第三者機関であるケミトックスの検証による「PID(電圧誘起出力低下)試験」により、同モジュールがPIDに対して高い耐性を有することが実証されたと発表した。これにより、同社製モジュールの高品質と高信頼性が証明された。

今回の試験は、太陽電池モジュールの国際規格として代表的なIEC規格(IEC82/685/NP)の試験条件に準拠し、セ氏60度、相対湿度85%、印荷電圧システム最大電圧(産業用1000V及び住宅用600V)、試験時間96時間で行われた。

「PID」とは、結晶Siモジュールで確認されている出力低下現象の一つで、太陽電池モジュールだけでなく太陽光発電システム全体の出力を低下させる恐れがある。太陽電池セルと太陽電池モジュールのフレームとの間に高電圧を掛けることにより生じやすく、高温多湿の環境下でシステム電圧が高い太陽光発電システムで起こりやすいといわれている。高電圧ストレスが引き起こすPIDの耐性を確認するため、各国の試験機関では、種々の試験条件で調査が行われている。

同社の子会社 カネカソーラーテックが生産している薄膜シリコン太陽電池には、1999年の創業当初よりガラスと太陽電池セルの間にアルカリバリア層が設けられており、PIDの原因のひとつとされているガラス中のアルカリ成分の太陽電池セルへの移動を防止する効果があると考えられる。この太陽電池設計がモジュールのPID耐性を高めていると考えられる。

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