太陽光発電モジュールの劣化（PID）現象を簡単・低コストで抑制する新技術

岐阜大学は3月8日、結晶シリコン系太陽電池モジュールの発電能力を短期に大幅に劣化させる現象である「電圧誘起劣化（PID：Potential Induced Degradation）」を、簡便・低コストで抑制する方法を発明したと発表した。発明したのは、同大学工学部電気電子・情報工学科の大橋 史隆助教ら。

近年、PIDの発生メカニズムとして、セル表面の反射防止膜（ARC：Anti-Reflection Coating）に高い電圧が加わることが劣化に大きく関係していると議論されている。そこで大橋助教らは、ARCに高い電圧が加わることを防ぐために、液体ガラスで作製したガラス層を高抵抗層として太陽電池モジュールに挿入し、これに電界を集中させる方法を着想した。