> > 太陽光発電モジュールの劣化(PID)現象を簡単・低コストで抑制する新技術

太陽光発電モジュールの劣化(PID)現象を簡単・低コストで抑制する新技術

 印刷 記事を保存

岐阜大学は3月8日、結晶シリコン系太陽電池モジュールの発電能力を短期に大幅に劣化させる現象である「電圧誘起劣化(PID:Potential Induced Degradation)」を、簡便・低コストで抑制する方法を発明したと発表した。発明したのは、同大学工学部電気電子・情報工学科の大橋 史隆助教ら。

近年、PIDの発生メカニズムとして、セル表面の反射防止膜(ARC:Anti-Reflection Coating)に高い電圧が加わることが劣化に大きく関係していると議論されている。そこで大橋助教らは、ARCに高い電圧が加わることを防ぐために、液体ガラスで作製したガラス層を高抵抗層として太陽電池モジュールに挿入し、これに電界を集中させる方法を着想した。

実験は、通常のガラス層がない場合と、カバーガラスとセルを包む封止材(EVA)の間にガラス層を挿入した場合、カバーガラスの表面にガラス層を作製した場合について、それぞれ太陽電池モジュールに短時間で高い電圧をかけてPIDの状態にする試験(PID試験)を行い、その効果を比較する方法を採用した。

(※全文:1137文字 画像:あり 参考リンク:なし)

  • まだ会員登録されてない方

    新規会員登録無料
  • 既に会員登録されている方

    ログイン

会員登録3つの特典

関連セミナー・イベント情報

関連カテゴリ

プレスリリースを受け付けております

環境ビジネスオンラインでは、皆様からの環境に関する情報をお待ちしています。

新製品・新サービス、研究内容、法令情報、イベント・セミナー、海外の環境ビジネス情報など、お気軽にお寄せ下さい。お送り頂いた内容を、編集部にて拝見いたします。

こちらから、必要事項をご記入ください

Copyright © 2019 日本ビジネス出版. All rights reserved.